電子與光電
光學技術(含鏡片材料)
機械與系統
航太技術
自動光學檢測技術及應用
技術/專利摘要表
摘要
關於一種用於衛星遙測影像的折反射式光學系統，其中整個折反射式光學系統的屈光度為DW，第二修正透鏡組的屈光度為DL，EFL為折反射式光學系統的等效焦距值。該折反射式光學系統可將入射光修正成具小主光線角的入射光。
交易方式
專利_非專屬授權,
刊登有效日期
2025/12/15
專利保護情形
專利類別
發明(TW,CN)／特許(JP)／Utility(US)
申請號
109100006
申請日期
2020/01/02
公告號
I754877B
公告日期
2022/02/11
專利權起算日
2022/02/11
專利權屆滿日
2040/01/01