:::首頁 技術交易市集 技術交易市集單筆檢視 字級 大 中 小 技術交易市集單筆檢視 顱內腦波異常發生位置之偵測系統 索取更多資訊 無障礙增加內容 無障礙增加內容 電磁/光電訊號檢測 醫療工程及醫療器材 其他 技術/專利摘要表 附加圖片 摘要 本發明係以腦部內之複數電極部擷取複數電壓變化波形訊號。並設處理單元將任意相鄰之電壓變化波形訊號相減而得到複數個電壓差變化波形。進一步將每一電壓差變化波形分頻為一第一頻段波形信號及一第二頻段波形信號；再分別取得相對應之複數第一頻段輪廓波形信號與第二頻段輪廓波形信號；將每一第一頻段輪廓波形信號與複數個第二頻段輪廓波形信號依序進行相關程度分析得到一相關程度數據表，用以偵測出顱內腦波異常發生位置。本案兼具利用獨特處理方式能科學的找出顱內腦波異常發生位置，與可以相關程度數據表具體量化呈現等優點。 資料類別 專利 資料編號 S11207D0002 發明人 所有人 中山醫學大學附設醫院 所有人屬性 研究機構 技術成熟度 概念 上架日期 2023/07/24 交易方式 技術授權, 刊登有效日期 2027/07/24 相關網站 專利保護情形 專利保護狀態 已獲證 申請國 中華民國 專利類別 發明(TW,CN)／特許(JP)／Utility(US) 申請號 105132496 申請日期 2016/10/07 公告號 I605792 公告日期 2017/11/21 專利權起算日 2017/11/21 專利權屆滿日 2036/10/06 您可能感興趣的技術 登入TWTM會員獲得更多資訊