:::首頁 技術交易市集 技術交易市集單筆檢視 字級 大 中 小 技術交易市集單筆檢視 太陽能芯片電性檢測裝置與方法 索取更多資訊 無障礙增加內容 無障礙增加內容 節能 技術/專利摘要表 附加圖片 摘要 一種太陽能晶片電性檢測裝置，包含貼附於一太陽能晶片的一匯流排的一彈性金屬片，此彈性金屬片具有一開口；以及設置於此彈性金屬片的一端之一導電裝置，此導電裝置經由此開口與此匯流排接觸。將此電性檢測裝置貼附在位於此太陽能晶片的正面的匯流排，此彈性金屬片與導電裝置分別電性連接至與相連於此太陽能晶片的背面的電極之一測試元件，俾使此彈性金屬片、此測試元件、以及此背面的電極形成一電流量測迴路，此導電裝置、此測試元件、以及此背面的電極形成一電壓量測迴路。 資料類別 專利 資料編號 S11110M0001 發明人 所有人 Industrial Technology Research Institute(工業技術研究院) 所有人屬性 研究機構 技術成熟度 實驗室階段 上架日期 2022/09/26 交易方式 技術授權,專利_非專屬授權, 刊登有效日期 2024/09/25 相關網站 專利保護情形 專利保護狀態 已獲證 申請國 中國 專利類別 發明(TW,CN)／特許(JP)／Utility(US) 申請號 201210039572.1 申請日期 2012/02/21 公告號 CN103163333 公告日期 2016/01/06 專利權起算日 2016/01/06 專利權屆滿日 2032/02/20 您可能感興趣的技術 登入TWTM會員獲得更多資訊