:::首頁 技術交易市集 技術交易市集單筆檢視 字級 大 中 小 技術交易市集單筆檢視 電磁特性量測裝置、電磁特性量測系統以及電磁特性量測方法 索取更多資訊 無障礙增加內容 無障礙增加內容 材料化工與奈米 技術/專利摘要表 附加圖片 摘要 一種電磁特性量測裝置包括導磁結構、線圈以及散射參數量測器。導磁結構包括面向待測樣品的第一側以及相對於所述第一側的第二側，其中所述第一側具有磁隙。線圈環繞所述導磁結構，以與所述導磁結構產生磁場。散射參數量測器設置於所述第一側並位於所述磁場的範圍內。 資料類別 專利 資料編號 S11108K0055 發明人 所有人 Industrial Technology Research Institute(工業技術研究院) 所有人屬性 研究機構 技術成熟度 試量產 上架日期 2022/08/15 交易方式 技術授權,專利_非專屬授權,合作開發,自行洽談, 刊登有效日期 2024/08/14 相關網站 專利保護情形 專利保護狀態 申請中 申請國 日本 專利類別 發明(TW,CN)／特許(JP)／Utility(US) 申請號 2020-210577 申請日期 2020/12/18 公告號 公告日期 1900/01/01 專利權起算日 專利權屆滿日 您可能感興趣的技術 登入TWTM會員獲得更多資訊