:::首頁 技術交易市集 技術交易市集單筆檢視 字級 大 中 小 技術交易市集單筆檢視 使用卷積神經網絡模型的物件偵測方法及物件偵測設備 索取更多資訊 無障礙增加內容 無障礙增加內容 其他 技術/專利摘要表 附加圖片 摘要 本揭露涉及一種使用卷積神經網絡模型的物件偵測方法及物件偵測設備。在一方面中，物件偵測方法包含：產生感測器資料；通過使用第一物件偵測演算法來處理感測器資料以產生第一物件偵測結果；通過使用多級稀疏更新映射演算法來處理第一物件偵測結果以產生多級更新後第一物件偵測結果；通過使用各級稀疏更新映射演算法之間的多級空間池化演算法來處理第一級的更新後第一物件偵測結果；執行多級深卷積層演算法以提取多個特徵結果；以及基於最後一級的特徵結果來執行偵測預測。 資料類別 專利 資料編號 S11106E0026 發明人 所有人 Industrial Technology Research Institute(工業技術研究院) 所有人屬性 研究機構 技術成熟度 試量產 上架日期 2022/06/27 交易方式 專利_非專屬授權, 刊登有效日期 2024/06/26 相關網站 專利保護情形 專利保護狀態 已獲證 申請國 美國 專利類別 發明(TW,CN)／特許(JP)／Utility(US) 申請號 16/215,675 申請日期 2018/12/11 公告號 US10748033B2 公告日期 2020/08/18 專利權起算日 2020/08/18 專利權屆滿日 2039/03/31 您可能感興趣的技術 登入TWTM會員獲得更多資訊