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高溫耐腐蝕之化合物半導體製程用載盤

電子與光電 材料化工與奈米

技術/專利摘要表

附加圖片
高溫耐腐蝕之化合物半導體製程用載盤IMG
摘要
由於手機、車用電子與電動車滲透率逐年提升,促使5G高頻與高功率晶片需求提升,全球半導體廠多已將化合物半導體列為重點發展業務。高溫耐腐蝕之化合物半導體製程用載盤技術,是國內唯一可供CVD SiC 載盤製程,且具有高溫耐腐蝕、膜層平均厚度100±35μm、翹曲度小於500μm,技術水準同步國際,未來還可應於於化合物半導體、半導體與UVC LED等高階關鍵組件,為國內上游關鍵載盤供應鏈,提供完整之自主性與競爭力。
資料類別
技術
資料編號
S11101T0105
發明人
所有人
Industrial Technology Research Institute(工業技術研究院)
所有人屬性
研究機構
技術成熟度
試量產
上架日期
2022/01/06
交易方式
技術授權,合作開發,
刊登有效日期
2024/01/06
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